ZX-Array-Tester
超低能耗存算一体系统测试平台
超低功耗存算一体芯片测试平台。支持通过集成光子传感系统进行数据采集，测试典型忆阻器阵列的电学特性，实现大规模存算一体矩阵并行光子测试，为超低功耗存算一体架构智能芯片设计开发研究提供必要的测试条件。
完整技术规格
| 处理器 | Intel 8核至强中央处理器 |
| 设备外设 | 2×千兆以太网、2×USB 3.0、2×USB 2.0 |
| 扩展能力 | 可扩展 17 个模块 |
| 矩阵拓扑 | 128×1 / 64×1 / 32×1 / 8组16×1 |
| 矩阵选通阻抗 | <2Ω (typical) |
| SMU通道数量 | 48通道（24×2），后续可拓展 |
| SMU电流分辨率 | 10pA |
| SMU最小电流范围 | 1μA |
| SMU最大工作电压 | ±24V |
| SMU电压分辨率 | 200μV |
| UFPIV超短脉冲 | 最短脉冲 13ns，支持双通道脉冲测试 |
| 电压输出模块 | 64通道，-10V ~ +10V |
| 电压输入模块 | 32通道，-10V ~ +10V |