半导体测试
存算一体芯片测试系统
Computing-in-Memory Chip Test System
存算一体（CIM）芯片专用测试方案，已成功销售给新加坡国立大学（NUS）等国际科研机构。
产品介绍
存算一体芯片测试系统面向 CIM、Analog AI、新型非易失存储器件的研发测试，提供晶圆级与封装级一体化方案。
主要功能
- 支持 SRAM/RRAM/MRAM/Flash 多种存储介质 CIM 阵列
- 动态电压扫描精度 0.1 mV，电流分辨率 1 nA
- 专用 AI 算子测试用例库（MAC、卷积、矩阵乘）
- 支持温度循环（-40 ~ +125 °C）老化测试
技术规格
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 电压精度 / Voltage | 0.1 mV |
| 电流分辨率 / Current | 1 nA |
| 测试温度 / Temperature | -40 °C – +125 °C |
| 支持介质 / Memory types | SRAM, RRAM, MRAM, Flash |